OF2i 高分解能粒度分布測定装置｜連続単一ナノ粒子測定・CMPスラリー・ラマン同時測定・PAT対応

BRAVE Analytics社製の革新的な粒子分析技術「OF2i（Optofluidic Force Induction：オプト・フルイディック力誘導）技術」は、マイクロ流体中で光誘起力（光ピンセットの原理）を応用することで、単一粒子の動きをリアルタイムかつ高精度にトラッキングすることが可能です。これにより、ナノメートルサイズからミクロンサイズに至るまで、個々の単一粒子軌道を精密に検出し、従来の粒度分布測定では困難な幅広い粒径を持つサンプルを明確に可視化し、評価を高速化します。さらにB-Elementaryは、ラマン同時測定による凝集物や不純物の定性も可能で、計測可能な粒子径は約50nm～50μmまでサポートします。

本製品は、高濃度スラリーから低濃度液体、エマルジョン、マイクロプラスチックまで高感度かつ高分解能なリアルタイム・オンラインモニタリングも実行可能で、ラボでの分析から製造現場での連続モニタリング（PAT）に至るまで幅広い用途に適しています。

同時ラマン測定: ラマン分光との統合により、サイズ・濃度だけでなく、異物や凝集物の定性分析も行える点も大きな特長です。
出力されるデータは、粒子サイズ分布、個数、濃度、凝集挙動の時間的変化といった、工程制御や研究開発に不可欠な情報を網羅しています。
フィルター性能のリアルタイム監視、CMPスラリー内での凝集評価や粒子速度の観察、多成分・非水系流体への対応力などスラリー開発で活用できます。さらにエマルジョン設計、ナノプラスチック研究といった高度な応用領域においても高いパフォーマンスを発揮し、お客様の迅速な問題解決が可能です。
高スループット・自動化・多様性に優れた本装置は、次世代の粒子プロセス制御と品質評価に最適なソリューションです。

また、B-Phatは画像を用いて、粒子の形状を撮影します。

アプリケーションや技術について詳細の説明、資料、お見積、サンプル測定、デモ希望などございましたら下記よりお気軽にご連絡ください。

https://dyna-researchlab.com/contact/

（OF2iを用いた論文）

下記のリンクページでOF2i技術を活用された論文の概要を紹介しています。

https://dyna-researchlab.com/references/reference_cat/semiconductor-slurry/

1. Optofluidic Force Induction: A Workbench for Nanoparticle Characterization and Material Analytics, Marko Šimić, Christian Neuper, Raphael Hauer, Karin Grießmair, Christian Hill, Ulrich Hohenester – オプトフルイディックによる力の誘導：ナノ粒子の特性評価および材料分析のためのワークベンチ
2. Optofluidic Force Induction Meets Raman Spectroscopy and Inductively Coupled Plasma-Mass Spectrometry: A New Hyphenated Technique for Comprehensive and Complementary Characterizations of Single Particles, Christian Neuper, Marko Šimić, Thomas E. Lockwood, Raquel G. de Vega, Ulrich Hohenester, Harald M. Fitzek, Lukas Schlatt, Christian Hill, David Clases – オプトフルイディック力誘導法とラマン分光法および誘導結合プラズマ質量分析法の融合：単一粒子の包括的かつ相補的な特性評価のための新しいハイフネート法
3. Optofluidic force induction as a process analytical technology, Marko Šimić, Christian Neuper, Ulrich Hohenester & Christian Hill – プロセス分析技術としてのオプトフルイディック力誘導