有機薄膜の分子配向解析に
MAIRS（多角入射分解分光法）による高度な構造解析サービス
従来法では困難だった
非晶質相の配向が解析可能に。
有機半導体や各種ナノ薄膜の開発・評価において、分子の配向状態はデバイス性能を大きく左右する重要な因子です。しかし、従来のXRDなどの手法では、非晶質を含む材料や分子スケールの配向情報を正確に捉えるのは困難でした。
当社では、京都大学化学研究所・長谷川健教授が提唱した「仮想光」理論に基づく革新的な分析技術、MAIRS（Multiple-Angle Incidence Resolution Spectroscopy／多角入射分解分光法）を用いた受託測定サービスを提供しています。
MAIRSは、IR（赤外）分光法に多角入射技術を組み合わせることで、官能基ごとの面内（IP）・面外（OP）スペクトルを分離取得し、分子の立体配向を定量的に解析可能とする強力なツールです。
膜表面が粗くても測定可能
XRDでは見落とされがちな非晶質相の構造情報にも対応しており、膜の表面がやや粗くても測定できるため、有機薄膜材料の初期評価や最適化に非常に有効です。特に、有機トランジスタ・太陽電池・バイオセンサーなどの高性能化を目指す研究開発において、分子配向の定量データは極めて価値があります。
測定からレポートまで迅速対応
サンプル作製はお客様にてご準備いただき、当社では測定から配向角の算出を含む詳細なレポートまでを迅速にご提供いたします。
大学・研究機関は30%OFF
さらに現在、大学・公的研究機関向けに「アカデミア支援プラン」として通常価格の30％OFFにてサービスを提供中。分子レベルの構造理解が求められる研究・開発に、ぜひMAIRS測定をご活用ください。